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首頁 > 產品中心 > 半導體專業檢測設備 > 晶圓形貌測量系統
  • WD4000晶圓測量儀設備

    中圖儀器WD4000晶圓測量儀設備從采購到報廢,全周期售后服務全程護航。無論是研發升級、批量質檢還是現場檢測,都能精準匹配你的核心需求。

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    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-11-20
  • WD4000無圖晶圓厚度量測系統

    WD4000無圖晶圓厚度量測系統1臺設備搞定厚度、三維形貌、粗糙度全參數測量,用于襯底制造、晶圓制造、封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及精密配件、光學加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工領域。

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    更新日期:2025-11-10
  • WD4000晶圓膜厚測量機

    中圖儀器WD4000晶圓膜厚測量機非接觸+三維微納形貌一體測量,賦能超精密加工檢測。1臺設備搞定厚度、三維形貌、粗糙度全參數測量,告別多設備繁瑣配合,兼顧高精度與高效率,適配多行業超精密檢測需求。

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    更新日期:2025-11-06
  • WD4000晶圓厚度粗糙度三維形貌測量系統

    中圖儀器WD4000晶圓厚度粗糙度三維形貌測量系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-10-29
  • WD4000復雜結構晶圓幾何量測系統

    WD4000復雜結構晶圓幾何量測系統通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進行重建,強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度,TTV,BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。

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    產品價格:3000000
    廠商性質:生產廠家
    更新日期:2025-10-11
  • WD4000晶圓三維顯微形貌測量設備

    WD4000晶圓三維顯微形貌測量設備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組,使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的測量。

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    更新日期:2025-09-17
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